• 测试平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

• 探测器：Si-Pin探测器

• 工作原理：利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

• 准直器大小：φ0.1mm的小孔准直器

• 温度要求：15℃至30℃。

• 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

• 外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

天瑞仪器专业从事光谱膜厚仪（镀层/涂层/氧化膜等）测厚仪器的销售业务及维修服务，天瑞THICK 800A镀金膜厚仪俗称镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等， 主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费。此仪器特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层

镀层厚度测试仪测试方法

金属和塑胶的混合样品应如何测试？

答： 尽可能拆分到均匀介质,既金属和非金属分开放在不同工作曲线测量.

• 与SGS对比差异的产生？答： 因为XRF是属于物理方法，是表面测试仪器.而SGS是采用化学方法,使用试剂溶解测试.从测试原理来讲，这两种方法是存在差异的，另外采用的检测设备是不同的，所以检测结果有可能会产生差异。尤其是一些电镀元器件和不均匀材质更为明显。SGS也使用制样来消除材料不均匀而造成的测量误差。

• 样品不能保证测试所需的平面光滑，应如何测试？答： 样品的几何形状对测试结果可能会有影响，一般选择比较平整的部分进行测试，在软件的算法上作了一定的处理，尽可能的降低了样品几何形状不规则造成的负面影响。

• 不同曲线中峰的选择和边界选取？答： 工作曲线的建立和感兴趣元素边界的划分相对比较复杂，对操作者的专业知识要求较高，需要经过长期系统的培训才能掌握，并且曲线中的峰边界相对比较固定，选定后不能随意改动，为保证仪器数据的准确性和安全性，一般由我司技术人员制作和修改。

• 能量值相近，叠加峰的问题如何解决？

  答：  主要依靠对各个元素谱型的熟悉来分析，一般来说S到Sn之间的元素受激发释放出的为K线，就是一个比较高的主α峰后边带一个比较低的β峰。Sn以后的元素受激发释放出的L线，一般有两个等高或者高度相当的峰同时出现，在一个峰被叠加峰影响后可其它峰谱是否出现，没有出现则说明为叠加峰影响，反之就不是。处理办法参考问题8答案。

• 参数规格

• 1   分析元素范围：K-U

•  

  2   同时可分析多达5层以上镀层

  3   分析厚度检出限达0.005μm

  4   多次测量重复性可达0.01μm

  5   定位精度：0.1mm

  5   测量时间：30s-300s

  6   计数率：1300-8000cps

  7   Z轴升降范围：0-140mm

  8   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

  性能特点

  1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

  2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

  安装要求：

  1   环境温度要求：15℃-30℃

  2   环境相对湿度：<70%

  3   工作电源：交流220±5V

  4   周围不能有强电磁干扰。

镀层厚度测试仪